腐食性ガス一発除去!制御機器類の大損害を容易に守ります。独立して設置される制御盤や操作盤を腐食性ガスによる内部の腐食から保護し、盤内の制御/電気機器のトラブルに起因する様々な損失を未然に防ぎます。
又、計器室外に設置されている制御盤や、腐食性ガスが存在する場所に設置された制御盤など、様々な場所の制御盤に適応!
光触媒式よりも高い腐食性ガス除去効率!
他社製品(光触媒式) | コロシューター ダブルファンタイプ CFU-70W |
コロシューター シングルファンタイプ CFU-70 |
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除去方式 | 光触媒による酸化反応・分解 | 化学吸着剤による化学反応・分解 | 化学吸着剤による化学反応・分解 |
循環回数 (1m3の場合) |
18回/時間 | 48回/時間 | 30回/時間 |
能力 | H2S:100ppbを1時間で10ppb以下 | H2S:2000ppbを約1分間で0ppb | H2S:2000ppbを約10分間で0ppb |
メンテナンス | 光触媒フィルタ洗浄 | 化学吸着剤交換 | 吸着剤モジュール交換 |
メンテ周期 | H2S:100ppb 年4回以上洗浄が必要 |
H2S:100ppb 年1回吸着剤交換 |
H2S:100ppb 年2回吸着剤交換 |
概算価格 (JMS調べ) |
× | ◯ | ◎ |
1m3の密閉空間にH2Sガスを循環させ、安定させた後、腐食性ガス除去装置を稼働し、空間中の硫化水素の濃度の経時変化を測りました。各々測定前には残留ガスが残らないようにし、空間内の濃度を安定させた同一の条件で測定を開始しました。
硫化水素ガス、メチルメルカプタン、亜硫酸ガス、窒素酸化物、VOCs、臭気ガス
化学吸着剤による気相状態での乾式除去 [酸化還元、中和反応、物理吸着]
《代表例》吸着剤(Purafil Select)での硫化水素除去反応
※硫化水素ガスを吸着剤(Purafil Select)で除去した場合の一例です。
※不可逆反応のため、破過したあとの再放出はありません。
※他成分の除去反応式は別途お問い合わせ下さい。
《代表例》 硫化水素
※他成分の減衰曲線については、別途お問い合わせ下さい。
除去速度:1.2ppmを約800秒でほぼ0.0ppm
吸着剤モジュールの寿命:常時0.05ppmを除去し続けて約6ヶ月(CFU-70)
制御盤内清浄化ユニットと併せて使用する事で、より効果的に機器の保全が可能です。
診断方法 | 銅、銀及び金の金属片サンプルを対象空間に30日間 曝露し、腐食度合を分析致します。 | |
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特徴 | ・金属試験片を使用した環境調査 (銅・銀の金属片) ・標準測定法に基づいた評価基準 (ISA-S71.04-1985に準拠) |
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※詳細はこちらをご覧下さい。 |
測定方法 | 定電位電解法センサーにより対象の腐食性ガス濃度を 連続測定します。 |
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特徴 | ・リアルタイムにて測定可能 (サンプリング量:1l/min) ・硫化水素、二酸化硫黄、塩素等の 腐食性ガス濃度測定が可能 ・測定レンジの分解能はppbレベルまで対応 ・アナログ出力(0-100mV)付属により、 データロガー等に接続可能 |
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※詳細はこちらをご覧下さい。 |